Das neue Inline-Dickenmessgerät für die Folien- und Platten-Extrusion Kapa-IR von SBI, Hollabrunn (Österreich), besitzt zusätzlich zum kapazitiven Messverfahren ein spezielles Infrarot-Sensorsystem für die Bestimmung der EVOH-Schichtdicke. Damit ist es möglich, […]
Das Dickenmessgerät Kapa-IR kann die EVOH-Barriereschicht von Folien inline kontrollieren. (Foto: SBI)
Das neue Inline-Dickenmessgerät für die Folien- und Platten-Extrusion Kapa-IR von SBI, Hollabrunn (Österreich), besitzt zusätzlich zum kapazitiven Messverfahren ein spezielles Infrarot-Sensorsystem für die Bestimmung der EVOH-Schichtdicke.
Damit ist es möglich, bei transparenten und opaken Mehrschicht-Folien die Dicke der EVOH-Schicht zu ermitteln. Dazu wird ein breites IR-Spektrum des Kunststoffes aufgenommen und mittels moderner Analysemethoden die resultierende Absorption durch die EVOH-Polymer-Moleküle ausgewertet. SBI ist mit diesem Messsystem vorwiegend auf die Messung von PP/EVOH/PP-Folien fokussiert, jedoch ist es mit erweiterten Analysealgorithmen auch möglich, andere EVOH-Polymerverbunde zu messen.
Angezeigt wird die Gesamt-, Bolzen- und EVOH-Dicke. (Abb.: SBI)
Das Kapa-IR misst die Gesamtdicke der Mehrschichtfolie, welche in Diagramm 1 in Mikrometer und Diagramm 2 in Stellbolzen über die Messbreite dargestellt wird. Die EVOH Schichtverteilung wird in Diagramm 3 angezeigt. Das Infrarot-Messsystem ist eine relative Messung und liefert mit Hilfe einer Kalibrierung die absolute EVOH-Schichtstärke.
In der heutigen Zeit ist die Bestimmung der EVOH-Schichtverteilung nicht mehr wegzudenken um eine gleichmäßige Qualität zu liefern. In vielen Anwendungsfällen wird die EVOH-Dicke mittels Mikroskope im Labor bestimmt. Mit dem Kapa-IR bietet SBI eine inlinefähige, berührungslose und benutzerfreundliche Dickenmessung, um schon während des Produktionsprozesses die EVOH-Barriere-Schicht zu kontrollieren.
